結(jié)構(gòu)觀察
試驗(yàn)項(xiàng)目
顯微結(jié)構(gòu)形貌分析、結(jié)構(gòu)尺寸量測(cè)。
試驗(yàn)參數(shù)
電壓范圍:200kV
信息分辨率:0.12nm(TEM)
電子源:FEG
STEM探頭:BF/DF/HAADF
HAADF圖片分辨率:0.16 nm(STEM)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 30543等。