工作壽命試驗驗證
通過加速壽命測試，試驗中施加熱應(yīng)力和電應(yīng)力來加速產(chǎn)品的老化過程，從而在有效（較短）的時間內(nèi)評估其長期壽命和性能。
能力配置
按產(chǎn)品分低功耗、中功耗、高功耗等類型，使用專用的壽命測試設(shè)備，通過設(shè)備、夾具(socket)或特殊裝置對芯片進(jìn)行加熱，設(shè)備驅(qū)動板提供信號激勵和電源到老化板(BIB)與夾具，使得產(chǎn)品進(jìn)入工作狀態(tài)，經(jīng)由電壓、溫度、時間等加速因子交互作用下，達(dá)到產(chǎn)品老化的效果 ，并從試驗結(jié)果預(yù)估出產(chǎn)品的平均故障時間(MTTF)及失效率(FIT)。
應(yīng)用領(lǐng)域
電工電子產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、包裝運(yùn)輸件、軌道交通產(chǎn)品、航空航天設(shè)備、核設(shè)備、船舶設(shè)備等。
試驗項目
高溫壽命試驗、低溫壽命試驗、間歇工作壽命試驗、功率溫度循環(huán)試驗、溫濕度壽命試驗、高加速應(yīng)力試驗、功率循環(huán)試驗 (PCsec、PCmin) 。
